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行业前沿的Sacrificial Pad测试针卡解决方案
高密度并行测试针卡方案
● 自动测试自动测试及装盘
模式 A: Bin1/NG料分盘
模式 B: Tray in & Tray Maping
● 可对芯片进行预热处理 (可选配置)
● QR 代码读取（可选配置）
● 多料盘设计，可适用于长时间无人化测试
● 测试头可换型，适用于多种产品。
地址:苏州市苏州工业园区华正街方正科技集团产业园
电话:+86 512 67069862
传真:512 67069862
邮箱:CSR@nfprobecard.com
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