请输入搜索关键词!

EN

致力于提供先进制程的晶圆测试探针卡方案
致力于提供先进制程的晶圆测试探针卡方案

为客户提供专业的

探针卡设计、制造、研发以及相关产品的极限应用需求

提供全球先进的半导体测试探针卡
提供全球先进的半导体测试探针卡

为客户提供专业的

产品设计以及相关产品的极限应用需求

ABOUT US
关于晶晟微纳

成立于2021年6月,坐落在美丽的苏州工业园区东沙湖畔。公司致力于为客户提供全面先进的半导体晶圆测试解决方案,涵盖SOC, FPGA, Analog, Memory, IGBT, Al, Automotive 等各类芯片的工程开发验证和量产的测试工具。 


公司设计团队拥有广泛的行业经验和网络,为客户提供专业的产品设计以及相关产品的极限应用需求。我们的团队技术精湛、积极进取、敬业奉献。在充满挑战的环境中工作,公司还为专业人员提供频繁的培训机会,并让他们随时了解行业最新发展。

了解更多
PRODUCT
我们的产品
Probe Card(针卡)
主要用于芯片封装前对芯片的电学性能进行初步测试,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程,因此,探针卡的作用至关重要,属于半导体核心检测耗材。
了解更多
Probe Card(针卡)
Mini Handler
● 自动测试自动测试及装盘
模式 A: Bin1/NG料分盘
模式 B: Tray in & Tray Maping
● 可对芯片进行预热处理 (可选配置)
● QR 代码读取(可选配置)
● 多料盘设计,可适用于长时间无人化测试
● 测试头可换型,适用于多种产品。
了解更多
Mini Handler
MEMS Probe
每一根探针都如同微观世界里的精密舞者,经过先进的 MEMS 制造工艺精心打造,其针尖的精度达到了微米甚至纳米级别。这种超高的精度使得它能够在微小的芯片表面实现精准定位,即使面对日益缩小的芯片尺寸和复杂的电路布局,也能轻松应对,准确地与芯片上的每一个测试点接触。
了解更多
MEMS Probe
Multi Layer Organic
主要用于芯片封装前对芯片的电学性能进行初步测试,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程,因此,探针卡的作用至关重要,属于半导体核心检测耗材。
了解更多
Multi Layer Organic
Probe Card(针卡)

Probe Card(针卡)

Mini Handler

Mini Handler

MEMS Probe

MEMS Probe

Multi Layer Organic

Multi Layer Organic

img
Applications
公司设计团队拥有广泛的行业经验和网络,
为客户提供专业的产品设计以及相关产品的极限应用需求。
Latest NEWS
最新资讯
针对4nm先进CoWoS的工艺的Titanium-1000(Ultrasharp) MEMS探针为AI测试带来测试效率和良率的突破
2024-11-12 针对4nm先进CoWoS的工艺的Titanium-1000(Ultrasharp) MEMS探针为AI测试带来测试效率和良率的突破
近日,晶晟微纳关于新型超细铑针尖探的研究取得重要进展。该款MEMS探针在 AI 芯片中针对后期需要Cowos技术路线中所使用的Sacrificial Pad测试中在测试良率续航等方面表现出色。随着 AI 技术的飞速发展,对芯片封装的要求日益提高。传统MEMS探针在测试中针对Sacrificial Pad面临接触准确性,可靠性,以及较大的接触电阻的挑战。这不仅仅是早期的VOH测试带来电压偏低的问题,
了解更多
探针卡为高算力 AI 芯片质量保驾护航——苏州晶晟微纳半导体技术研讨会暨新品发布会在北京举行
2023-04-29 探针卡为高算力 AI 芯片质量保驾护航——苏州晶晟微纳半导体技术研讨会暨新品发布会在北京举行
N90 MEMS Cobra 探针覆盖了经典 Cobra 针的大部分规格性能和特点,并在此基础上缩短了工艺流程,提高了制造精度,提升了测试的高并行度,大大降低了测试成本,有效解决芯片电流大、功耗大、频率高、引脚数多等要求,并提供高低温测试环境。随着 ChatGPT 等 AI 大模型的广泛应用,全球芯片算力需求将大幅提升,从而引发了高能耗、高功率芯片测试的需求。带宽频率电流等要求越来越高
了解更多
联系我们

地址:苏州市苏州工业园区华正街方正科技集团产业园

电话:+86 512 67069862

传真:512 67069862

邮箱:CSR@nfprobecard.com

Copyright © 苏州晶晟微纳半导体科技有限公司 版权所有 网站建设 备案号:苏ICP备2024091075号-1

网站地图 | 法律声明 | 隐私政策 |