近日，晶晟微纳关于新型超细铑针尖探的研究取得重要进展。该款MEMS探针在 AI 芯片中针对后期需要Cowos技术路线中所使用的Sacrificial Pad测试中在测试良率续航等方面表现出色。
随着 AI 技术的飞速发展，对芯片封装的要求日益提高。传统MEMS探针在测试中针对Sacrificial Pad面临接触准确性,可靠性,以及较大的接触电阻的挑战。这不仅仅是早期的VOH测试带来电压偏低的问题，同时也造成后期Scan的大量不稳定失效。而新型超细铑针尖探针凭借其行业领先的MEMs 超硬材料和精细的针尖设计，有效解决了这些问题。
科研团队经过精心研发和无数次实验开发出行业领先达到5um的超小针径，并通过大量实验和量产测试证实该探针能够更精准有效地接触 Sacrificial Pad。在与传统探针的对比测试中，新型探针展现出更高的测试良率和更高的稳定性。
这一成果为 AI 芯片的质量检测提供了有力支持，有望推动整个行业在AI测试探针卡技术上的进一步提升，为硅基智慧时代提供关键的芯片测试技术奠定坚实基础。
